Metrologie

Boháček Jaroslav

Dostupnost
skladem
Vydavatel
České vysoké učení technické v Praze
ISBN
978-80-01-06612-6
EAN
9788001066126
Počet stran
134
Místo vydání
Praha
Rok vydání
2019
Skripta jsou především určena studentům předmětů A0M38MET a XP38MPM, které jsou zajišťovány katedrou měření na FEL ČVUT v Praze. Jejich první část je věnována fundamentální metrologii, pojednává o měřicích škálách, soustavě měřicích jednotek SI, etalonech elektrických veličin, metodách používaných při navazování etalonů, chybách měření a nejistotách měření. Druhá část je zaměřena na problematiku přesných měření stejnosměrných a nízkofrekvenčních elektrických veličin a seznamuje studenty jednak se speciálními prostředky a zařízeními, jejichž používání umožňuje dosahovat vysoké přesnosti měření, jednak s vlastními metodami přesného měření aktivních i pasivních elektrických veličin.
Metrologie

275 Kč


Ostatní s tímto titulem kupují:

  1. Položka byla přidána do košíku.

Menu